Lo scorso ottobre, in occasione di Expoqualità - la Mostra convegno sulla qualità e la certificazione - si è svolto un convegno per la presentazione delle nuove norme della famiglia ISO 17000 che hanno come denominatore comune il fatto che tutte trattano temi inerenti la "Valutazione della conformità".

L'incontro, intitolato "Valutazione della conformità: dalle UNI EN 45000 alle UNI EN ISO 17000", era organizzato da UNI, FIDEA, Fiere di Parma e Università di Parma con l'obiettivo di chiarire il reale impatto di queste nuove norme, semplificandone la scelta e l'applicazione e di presentare il nuovo corpus normativo, rilevare i fattori di cambiamento introdotti dalle recenti revisioni ed evidenziare l'impatto delle norme sugli organismi di accreditamento, sugli enti di certificazione, sui laboratori di prova e taratura.

Erano presenti in qualità di relatori i rappresentanti di UNI, SINAL, SINCERT e SIT.

In questa pagina mettiamo a disposizione le relazioni (liberamente scaricabili in formato pdf) presentate dai relatori nel corso dell'incontro:

• Marco Cibien - Funzionario tecnico del Comparto Impresa e Società UNI (file: pdf; size: 1,7 Mb)
• Paolo Bianco - Direttore SINAL (file: pdf; size: 1 Mb)
• Alberto Musa - Direttore SINCERT (file: pdf; size: 162 Kb)
• Mario Mosca - Responsabile della Segreteria Centrale SIT (file: pdf; size: 250 Kb)

10/11/2005